菲希爾代理X射線測厚儀產品信息

FISCHERSCOPE XAN500

一臺儀器，三種作業模式：XAN®500不只是一臺手持便攜式XRF設備，它還可以轉變為臺式儀器或者整合到生產線中。

FISCHERSCOPE MMS PC2

采用不同測量技術的模塊化系統：非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關的各種需求。

COULOSCOPE CMS2

臺式測厚儀，幾乎可測量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層（包括多鍍層）的厚度。

FISCHERSCOPE  GOLDSCOPE

GOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設計的

FISCHERSCOPE XAN

用于快速、高效地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器。

FISCHERSCOPE XUL / XULM

基于 X 射線熒光法的測試儀器，堅固耐用，快速、高效地測量鍍層厚度，特別適合電鍍行業。

FISCHERSCOPE XDL / XDLM / XDAL

功能*：XDL 系列儀器具有全面的配置方案，可手動或自動測試，是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。

FISCHERSCOPE XDV-SDD

FISCHERSCOPE XDV-SDD專為滿足高要求的鍍層厚度測量和材料分析而設計

FISCHERSCOPE XDV-µ

FISCHER的XDV-µ型系列儀器，可用于測量電子或珠寶等行業中最微小結構的產品

FISCHERSCOPE XUV

X 射線熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測量室。

FISCHERSCOPE XDL / XDLM / XDAL

憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向，XDL® 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據不同的測量需求選擇X 射線儀器。