Fischer測厚儀菲希爾代理維修

菲希爾X射線測厚儀Fischer代理特點

菲希爾X射線測厚儀配備了半導體探測器，由于有更好的信噪比，能更精確地進行元素分析和薄鍍層測量

菲希爾X射線測厚儀使用微聚焦管可以測量較小的測量點，但因為其信號量較低，不適合測量十分細小的結構  

底部C型開槽的大容量測量艙

菲希爾X射線測厚儀有彈出功能的快速、可編程XY平臺

菲希爾X射線測厚儀典型應用領域

鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）

來料檢驗，生產監控

研究和開發

電子工業

接插件和觸點

黃金、珠寶和鐘表工業

可以測量數納米薄的鍍層，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層

痕量元素分析

在有“高可靠性"要求的應用中確定鉛（Pb）含量

硬質鍍層分析