X射線熒光測厚儀是一種功能*的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析。在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出好的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。

　　X射線熒光測厚儀測量原理：

　　當原子受到原級X射線或其他微觀粒子的激發(fā)使原子內(nèi)層電子電離而出現(xiàn)空位，原子內(nèi)層電子重新配位，較外層的電子躍遷到內(nèi)層空位，并同時放出次級X射線，即X射線熒光。X射線熒光的波長對不同元素是特征的，因此可以根據(jù)元素X射線熒光特征波長對元素做定性分析，根據(jù)元素釋放出來的熒光強度，來進行定量分析如元素厚度或含量分析。

　　X射線熒光測厚儀測試過程及注意事項：

　　1．儀器及附件均處開機狀態(tài)。

　　2．在程序庫中選中與產(chǎn)品對應的曲線。

　　3．打開儀器前蓋，臺面自動伸出。

　　4．將樣品放入儀器臺面，測量大致位置對準儀器紅外對焦點。

　　5．關(guān)閉儀器前蓋，儀器臺面自動歸位。

　　6．在顯示器屏幕中用鼠標控制儀器臺面微調(diào)，精確對準測試位置。

　　7．測試過程中指示燈亮紅，此時嚴禁打開儀器前蓋。

　　8．測試時間十五秒主窗口及數(shù)據(jù)表中顯示測試產(chǎn)品厚度。

　　9．指示燈熄滅，打開儀器前蓋，臺面自動伸出。取出樣品，完成測試。