LuphoScan測量平臺是一款基于多波長干涉技術（MWLI）的干涉式掃描測量系統。LUPHO Scan是基于MWLI方法技術（多波長干涉儀）的測量設備。設計用于旋轉對稱光學組件（例如非球面透鏡）的精密非接觸式3D形狀測量的目的，可以在納米級上測量3D光學組件的真實形狀。 它專為旋轉對稱表面的精密非接觸式3D形狀測量而設計， 例如非球面光學透鏡。LuphoScan平臺能夠輕松進行非球面、球面、平面和自由曲面的測量。 該儀器的主要特性包括高速測量、特殊表面的高靈活度測量（例如：拐點的輪廓或平坦的尖點）。 因為采用多波長干涉技術（MWLI）傳感器技術， 因此能夠掃描各種表面類型如透明材料、金屬部件和研磨表面。能夠測量120/260/420/600毫米直徑光學組件的高速非接觸式3D光學表面形狀測量儀/輪廓儀.

LuphoScan測量系統用于測量可旋轉的對稱表面的3D拓撲結構， 例如凹面球面透鏡和凸面球面透鏡。 測量工作臺的設計能夠確保測量大多數的透鏡， 而不受任何球形偏離、罕見頂端形狀（平頭）、傾斜或者發射點圖的限制。除了標準的測量應用外， 還可以使用LuphoScan測量平臺的特殊擴展工具LuphoSwap不同擴展功能， 來完成多種光學要素特征的測量。該工具能夠輔助測量透鏡厚度， 以及楔形與偏心誤差。 除此之外， 額外的附加軟件類型能夠直接測量間斷的透鏡，如分段表面包括矩形部件、環形透鏡、有衍射階梯的表面和錐透鏡。