FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237功能特點：

◆配備了半導體探測器，由于有更好的信噪比，能更精確地進行元素分析和薄鍍層測量

◆使用微聚焦管可以測量較小的測量點，但因為其信號量較低，不適合測量十分細小的結構

◆底部C型開槽的大容量測量艙

◆有彈出功能的快速、可編程XY平臺

典型應用領域：

◆鍍層和合金的材料分析(還適用于薄鍍層和低含量成分)

◆來料檢驗，生產監控

◆研究和開發

◆電子工業

◆接插件和觸點

◆黃金、珠寶和鐘表工業

◆可以測量數納米薄的鍍層，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層

◆痕量元素分析

◆在有“高可靠性"要求的應用中確定鉛(Pb)含量

◆硬質鍍層分析