菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL系列作為一款應用廣泛的能量色散型 X 射線鍍層測厚及材料分析儀，源自大眾認可的 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器，在其基礎上實現了進一步的優化與升級。

與上一代儀器一樣，菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL系列具備*的功能，非常適合進行無損測量鍍層厚度、材料分析以及溶液分析。同時，針對大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層，它能夠實現全自動檢測，大大提高了生產檢測的效率和準確性。

該系列儀器采用了基本參數法這一先進技術，這一特性使其在測量和分析方面具有優勢。無論是面對鍍層系統，還是固體和液體樣品，儀器都無需依賴標準片，即可直接進行測量和分析，為用戶省去了繁瑣的標準片準備工作，提升了工作的便捷性。

在測量范圍上，FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列能夠覆蓋從元素氯（17）到鈾（92），廣泛的測量范圍使其適用于多種不同的檢測場景。對于需要進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控的客戶來說，FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列無疑是一款可靠且實用的儀器選擇。