菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240關鍵測量性能

鍍層量程全覆蓋

超薄～厚鍍層通測：50nm 金（Au） ~ 100μm 錫（Sn）；兼容金、銀、鎳、銅、鉻、鋅、鋅鎳、鈀、銠等主流電鍍層

精度與重復性

標準片校準：Au＞0.1μm 誤差＜±5%；無標樣 FP 基本參數法＜±10%

超薄金典型表現：80nm 金層 20s 測量，重復誤差僅 ±2.5nm，變異系數 COV＜5%

多層 / 合金分析能力

支持單層、雙層、三層復合鍍層（如 ABS 底 Cr/Ni/Cu、連接器 Au/Ni/Cu）

FP 無標樣法：固體鍍層、電鍍液金屬濃度、多元合金成分均可直接分析

元素檢測范圍：氯 Cl (17) ~ 鈾 U (92)，最多同步分析 5 層鍍層、24 種元素（升級 WinFTM BASIC 軟件）

配套軟件 WinFTM

標配：WinFTM LIGHT（基礎測厚、報表、公差判定）

可選升級：

BASIC：合金分析、電鍍液成分、多層復雜鍍層算法

PDM/SUPER：SPC 統計、批量自動記錄、導出 Excel、對接產線 MES

功能：自定義上下公差、自動 NG/OK 標記、存儲測量曲線、導出檢測報告