菲希爾X射線測厚儀FISCHER XAN215核心測量原理

能量色散 X 射線熒光（EDXRF），搭載菲希爾FP 基本參數(shù)法，無需配套標(biāo)準(zhǔn)片即可直接測鍍層厚度與合金成分；樣品無損傷，適合高價值首飾、貴金屬件檢測。

硬件關(guān)鍵參數(shù)

1. X 射線發(fā)射系統(tǒng)

X 光管：鎢靶熱穩(wěn)定 X 射線管，鈹窗口

高壓三檔可調(diào)：30kV / 40kV / 50kV

標(biāo)配準(zhǔn)直器：φ1mm；可選配 φ2mm

測量光斑：孔徑 + 200μm 補(bǔ)償，測量距離 0–25mm

DCM 距離補(bǔ)償，高低落差樣品無需頻繁校準(zhǔn)

2. 探測器與分析能力

探測器：半導(dǎo)體制冷 Si-PIN 探測器

能量分辨率：Mn-Kα ≤180eV

可測元素范圍：Cl (17) ~ U (92)，單次同步分析最多 24 種元素

金層重復(fù)性：≤1‰（60s 測量時長）

樣品最大高度：最高 170mm，大件首飾、紀(jì)念幣均可放入

3. 機(jī)身結(jié)構(gòu)

臺式上掀式防護(hù)門，自下而上發(fā)射 X 射線（樣品放置在透明載臺上方）

內(nèi)置高清彩色 CCD 視頻顯微鏡，帶十字刻度標(biāo)尺、可調(diào) LED 光源，精準(zhǔn)定位微小測點

手動放置樣品，可選配手動 XY 移動平臺，微小零件多點測量

全封閉輻射防護(hù)，安全合規(guī)，可車間 / 門店使用