
泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC S128核心定位與差異
S128 與同系列標準款 S116 的主要區別在于量程和分析能力。S128 具備更廣的測量范圍,適合對粗糙度要求更嚴苛或表面紋理變化更大的精密部件檢測。
主要技術參數
根據泰勒霍普森及計量認證資料,S128 的關鍵指標如下:
垂直分辨率:提供 50 nm / 10 nm / 5 nm 三檔(隨量程自動切換),適合精細表面紋理的捕捉。
測量行程與能力:最大水平行程 25.2 mm。配備 50 mm 測針升降裝置,測針可達距離超過 70 mm,無需額外墊塊即可測量深孔或難以觸及的表面。
取樣長度:支持 0.25 mm / 0.8 mm / 2.5 mm 三種標準截止波長,適配不同標準要求。
精度與重復性:讀數精度為讀數的 0.5% + 噪聲(優于標準款的 1%);重復性典型值在 ±3% 左右
蘇公網安備32021402002647