X 射線熒光 XRF，無損檢測，從上往下垂直照射樣品，用于鍍層厚度測量 + 材料元素分析，臺式實驗室機型，屬于 XDL 系列中端款

核心配置（XDL230 區別同系列）

- XY 工作臺：手動 XY 移動平臺；Z 軸：電動馬達驅動 Z 軸（XDL210 固定 Z，XDL220 電動 Z 無 XY，XDL240 是全自動電機 XY+Z）

- DCM 距離校正技術：曲面、異形零件可自動補償測量距離，復雜工件測量優勢明顯

- 最小測量光斑：φ0.2mm，微小點位鍍層檢測

- 鎢靶 X 射線管 + 比例計數管探測器，測量速度快

- 高清彩色視頻顯微鏡 + 十字標線 + 激光定位，可放大觀察定位測點

- C 型開槽防護罩：可以測量大于腔體的大板件（PCB 電路板等），不用把工件整體放進機倉內

- 樣品最大高度：140 mm

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