Fischer代理鍍層測厚儀

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY主要特點：

• X射線熒光鍍層測厚儀Z多可同時測定從鋁( 13 )到鈾(92 )中的24種元素

• 測量門向上開啟的臺式儀器,側(cè)面開槽設(shè)計。

• 馬達驅(qū)動、可編程運行的X/Y軸工作和Z軸升降臺

• 馬達驅(qū)動、可切換的準直器和基本濾片。

• 配備三擋高壓和4個可切換的基本濾片。

• 可按要求,提供額外的XDV型產(chǎn)品更改和XDV儀器技術(shù)咨詢。

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY鍍層厚度測量
■測量未布元器件和已布元器件的印制線路板
■在納米范圍內(nèi)測量復雜鍍層系統(tǒng),如引線框架上Au/Pd/Ni/CuFe的鍍層厚度
■對 12英寸直徑的晶圓進行全自動的質(zhì)量監(jiān)控
■在納米范圍內(nèi)測星金屬化層 (凸塊下金屬化層，UBM ):遵循標準 DIN EN ISO 3497 和ASTM B568
菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY材料分析
■分析諸如Na等極輕元素
■分析銅柱 上的無鉛化焊帽
■ 分析半導體行業(yè)中C4或更小的焊料凸塊以及微小的接觸面
菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY典型應(yīng)用領(lǐng)域
■測量PCB、 引線框架和晶片上的鍍層系統(tǒng)
■測 星微小工件和線材上的鍍層系統(tǒng)
I分析微小工件的材料成分

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