菲希爾涂層Fischer

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope x-ray XAN500一臺儀器，三種作業模式：XAN®500不只是一臺手持便攜式XRF設備，它還可以轉變為臺式儀器或者整合到生產線中。

Fischerscope MMS PC2采用不同測量技術的模塊化系統：非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關的各種需求。

COULOSCOPE CMS2臺式測厚儀，幾乎可測量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層（包括多鍍層）的厚度。

菲希爾GOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設計的

菲希爾X射線測厚儀XAN用于快速、地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器。

菲希爾X射線測厚儀XUL / XULM基于 X 射線熒光法的測試儀器，堅固耐用，快速、地測量鍍層厚度，特別適用于電鍍行業。

菲希爾X射線測厚儀XDL / XDLM / XDAL功能*：XDL 系列儀器具有的配置方案，可手動或自動測試，是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。

菲希爾X射線測厚儀XDV-SDDFISCHERSCOPE® XDV-SDD專為滿足要求的鍍層厚度測量和材料分析而設計

菲希爾X射線測厚儀XDV-µFISCHER的XDV-µ型系列儀器，可用于測量電子或珠寶等行業中最微小結構的產品

菲希爾X射線測厚儀XUVX 射線熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測量室。

菲希爾X射線測厚儀XDL / XDLM / XDAL憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向，XDL® 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。