X射線測厚儀

Fischerscope XDL230有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。

菲希爾X熒光射線測厚儀由于采用了FISCHER*基本參數法，因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。

菲希爾X熒光射線測厚儀設計理念：

菲希爾X熒光射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺，馬達驅動的Z軸系統。

菲希爾X熒光射線測厚儀高分辨率的彩色視頻攝像頭具備*的放大功能，可以精確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。

菲希爾X熒光射線測厚儀測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。

Fischer X熒光射線測厚儀帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的精確調整。

所有的儀器操作，以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示，都可以通過功能*而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。

Fischer X熒光射線測厚儀XDL型鍍層測厚及材料分析儀作為受*保護的儀器，型式許可*符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規的規定。

X射線測厚儀